電容測試儀

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產(chǎn)品名稱: 電容測試儀

產(chǎn)品型號: 3506

產(chǎn)品展商: 日本日置

產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

電容測試儀 3506與3505繼承了3504獲得好評的高速檢查與測量值分類BIN功能，是可對低容量電容器實現(xiàn)穩(wěn)定測量精度并符合市場要求的產(chǎn)品。

電容測試儀 的詳細(xì)介紹

HIOKI(日置電機株式會社：日本國長野縣上田市；社長:吉池達(dá)悅)開發(fā)出*適合于測量頻率為1kHz、100kHz、1MHz測量所要求的低容量電容器測量的“C 測試儀 3506與C 測試儀 3505”。

低容量C測量儀器
C 測試儀 3506與3505是用于測量電解電容器以外的電容器的C（靜電容量）測量儀器，可測量頻率為1kHz、100kHz（**于3505）、1MHz的C（靜電容量）與D（損耗系數(shù)）。C 測試儀 3506與3505的測量范圍：C為0.000 pF～15.0000μF，D為0.00001～1.9900。*低量程為220 pF（1MHz時），與以往的產(chǎn)品相比，大幅度改進(jìn)了微小容量測量的重復(fù)精度。提高了測量期間檢測接觸出錯的能力，適合于裝入自動檢查設(shè)備。
充實了從低容量到高容量的C儀表系列產(chǎn)品
在已經(jīng)發(fā)售的C 測試儀 3504的基礎(chǔ)上新增本次發(fā)售的C 測試儀 3506與3505，可進(jìn)行低容量到高容量的電容器C測量。各機型均可進(jìn)行*快2ms的高速測量，除了可應(yīng)對taping machine 之外，還可以通過可將C測量值劃分為*多13或14＊1類別的BIN功能應(yīng)用于分選機。另外，可保存*多99或70＊2組的測量條件，除了可通過外部控制選擇測量條件之外，還可以向外部輸出比較器結(jié)果與BIN分選測量結(jié)果等，完善了便于構(gòu)建與自動設(shè)備之間連接的接口。在構(gòu)建高速自動化生產(chǎn)線上發(fā)揮出強大的威力。

*13506與3505為13類，3504為14類
*23506與3505為70組，3504為99組

電容測試儀產(chǎn)品概要

HIOKI已銷售了C 測試儀3504，電容器廠家與自動設(shè)備廠家還要求提供可測量低容量電容器的C測量儀器。C 測試儀 3506與3505繼承了3504獲得好評的高速檢查與測量值分類BIN功能，是可對低容量電容器實現(xiàn)穩(wěn)定測量精度并符合市場要求的產(chǎn)品。與3504一樣，C 測試儀 3506與3505的接口也采用外部I/O?RS-232C?GP-IB為標(biāo)準(zhǔn)配備，因此充實了簡易構(gòu)建自動化生產(chǎn)線的功能。

電容測試儀便利性(C 測試儀 3506與3505的功能)

*快2ms（模擬測量1ms）的高速測量 - 具有*快２ms（FAST時）的高速測量，可應(yīng)對taping machine等的高速檢查。測量速度可進(jìn)行FAST/NORMAL/SLOW三檔選擇。
提高了重復(fù)測量精度 - *低C量程為220 pF（1MHz時），與以往產(chǎn)品相比，微小容量測量的重復(fù)精度得到了提高。
充實了接觸檢測功能 - 利用振動檢測功能等，可檢測測量期間的接觸出錯。出現(xiàn)接觸出錯的測量對象并非**，通過ERR(出錯)判定，有助于提高成品率。
比較器功能 - 可分別設(shè)定第1參數(shù)（C）與第2參數(shù)（D）的上、下限值。判定結(jié)果可利用蜂鳴器鳴響與LED顯示進(jìn)行通告，也可以進(jìn)行外部輸出，設(shè)定值可一直顯示。
只需要選擇的簡單操作與LED顯示 - 是指從面板顯示所標(biāo)記的項目中只需要進(jìn)行選擇的簡易操作。設(shè)定的測量條件通過點亮LED進(jìn)行顯示，一目了然，便于把握設(shè)定條件。
BIN分選功能 - C測量可根據(jù)測量值劃分為*多13類，因此易于進(jìn)行分選。
觸發(fā)器同步輸出功能 - 施加觸發(fā)后，輸出測量信號，僅在測量時向被測元件施加信號。由于接觸被測元件時沒有大電流，因此減輕了接點的磨損。
可保存70組測量條件 -可保存*多70組測量條件，可迅速應(yīng)對重復(fù)測量較多的生產(chǎn)線的被測元件切換?？衫肊XT I/O讀取任意測量條件。
打印機輸出 - 通過RS-232C接口，可從選購件—9442打印機打印出測量值、比較器結(jié)果及BIN分選測量結(jié)果。這便于檢查結(jié)果的數(shù)據(jù)附加。
EXT I/O?RS-232C,GP-IB標(biāo)準(zhǔn)配備 - 觸發(fā)、測量條件的負(fù)載可從外部進(jìn)行控制。另外，可進(jìn)行比較器結(jié)果、BIN分選測量結(jié)果以及測量結(jié)束等的外部輸出，完善了與自動設(shè)備之間的接口。
符合JIS標(biāo)準(zhǔn) - 針對電解電容器以外的電容器，以較低的價格實現(xiàn)了基于JIS C 5101-1的，頻率為1kHz、1MHz的C-D(tanδ)測量。

電容測試儀主要用途

電容器廠家的檢查與分選

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